杭州国磊CAF测试系统* 杭州国磊半导体设备供应

　　很多初创Fabless企业，产品线丰富，同时布局多款模拟芯片，但企业预算有限，没有条件采购多台ATE设备，第三方测试机构排期紧张，样品送测周期不可控，严重拖慢新品迭代节奏。科普，中端ATE平台的主要价值，就是依靠模块化板卡，以一台主机实现多品类芯片覆盖，不用一次性投入多套整机，实现资金高效利用。杭州国磊半导体G97?X200测试机，面向中小设计公司的高适配ATE设备，硬件支持多款可替换功能板卡。根据待测芯片类型更换对应板卡，就可以分别完成PMIC电源芯片、LED驱动、信号类芯片的样品测试与小批量试产。设备软硬件全部本土自研，没有高昂的海外年度软件服务费，后期升级主要通过板卡迭代，保护主机*。工程师可以在企业内部完成大部分样品验证，不再完全受制于外部测试排期，加快新品迭代速度。设备部署简单，培训上手快，本土工程师现场配合调试，帮助初创团队用合理预算搭建自有测试工位，兼顾多产品线的测试需求。国磊紧凑型 G97-S 桌面 ATE 专为实验室模拟芯片流片前表征设计，8 槽位轻量化机身，快速搭建芯片性能对标测试。杭州国磊CAF测试系统*

　　新能源车800V高压平台加速普及，SiC功率模块、车载OBC、DC-DC高压功率器件量产规模持续扩大，1000V击穿电压、高温漏电流、多支路并联特性测试成为产线**挑战。很多车载功率模块企业面临产能瓶颈：进口高压测试系统通道少、切换工位有限，产线吞吐能力不足；高压测试时模块多支路串扰严重，测量精度受地环路影响；高温反偏老化测试需要长时间稳定高压输出，普通设备长时间运行温漂大。科普，800V车载功率模块测试**在于"高压浮动隔离 多支路自动切换"，模块内部包含多个功率芯片并联，每一支路都需要**测试，浮动隔离架构可消除支路间串扰，继电器矩阵实现自动切换，大幅提升产线效率。杭州国磊半导体GI-SMUHV011000V高压浮动SMU，具备高绝缘耐压、pA级微电流测量能力，完美适配车载高压功率模块静态击穿、关态漏电流、高温反偏老化测试，浮动隔离设计消除模块多支路测试串扰。搭载于G97-X600量产ATE平台，搭配GI-CBIT120120路继电器驱动板卡，单套系统可自动切换数十个功率模块支路，无需人工插拔夹具，产线并行效率提升数倍。更换不同板卡，还可兼容车载OBC、DC-DC、PTC加热器驱动等多品类高压车载器件，一套测试系统覆盖800V高压平台全功率器件测试需求。杭州PCB测试系统研发国磊G97-ADC全系统采用PXIE总线结构，数据处理带���高，延时低，系统测试速度快。

　　智能驾驶渗透率持续提升，车载CIS图像传感器***用于ADAS摄像头、舱内监控、环视系统，芯片测试分为电性直流参数与光学成像同步检测，需要ATE输出稳定供电、读取像素数据，搭配标准光源同步采集噪点、坏点、灵敏度指标。很多车载CIS企业面临测试流程割裂痛点：绝大多数ATE*支持单一电性能测试，光学成像检测需额外采购**光学测试设备，产线两套设备流转，节拍拉长、人力成本翻倍；普通设备像素数据解析能力弱，只能人工筛查坏点噪点；车规级CIS需要高低温环境下成像一致性验证。科普，CIS测试属于模/数/光一体化复合型测试场景，**在于电性能测试与光学成像测试的同步联动，供电、像素读取、光源控制、温箱调度必须在同一套系统中协同完成，才能保障测试节拍与数据一致性。杭州国磊半导体G97-X300工程中批量ATE平台，搭载GI-SMUBV04四路±10V低压精密SMU提供CIS芯片稳定供电，GI-DMUMS32数字板卡完成像素数据高速读取与坏点噪点智能分析，系统支持联动标准光源与高低温箱，同步完成电性参数与光学成像检测。更换不同板卡，即可适配手机CIS、安防CIS、车载CIS等多品类图像传感器，帮助成像芯片企业建立光电一体化自动测试产线，消除两套设备流转的效率损耗。

　　很多设计公司ADC项目属于阶段性项目，项目周期结束之后，设备如果只能测ADC，就会长期闲置。科普，专项ATE主机平台具备通用能力，通过更换板卡，就可以承接其他模拟芯片测试，提升设备整体利用率。杭州国磊半导体G97?ADC测试机，面向模数转换芯片的ATE设备，基础平台硬件能力完备，支持多规格可替换板卡。ADC项目阶段，使用**信号板卡完成INL、DNL、SNR、THD等*动态静态参数测试；项目结束，更换其他功能板卡，即可开展电源管理、驱动IC测试，避免设备闲置。设备兼顾研发验证与量产筛选，软硬件本土自研，*响应快速。对于ADC为阶段性项目的芯片企业，G97?ADC既可以满足ADC芯片严苛测试需求，又可以兼顾其他模拟芯片业务，提升设备综合*回报率。国磊G97-ADC 标准 GPIB/TTL 接口，对接探针台、分选机、高低温箱，搭建全自动量产测试站。

　　洁净厂房租金昂贵，每一寸空间都产生成本，很多研发实验室场地有限，放不下多台大型 ATE 机柜。科普，紧凑型 ATE 的主要优势就是节省空间，依靠板卡模块化，小机身实现多芯片适配，不用多台机柜堆叠。杭州国磊半导体 G97?S 测试机，桌面紧凑型 ATE，机身小巧，无需占用大量洁净室面积。通过更换不同测试板卡，完成电源芯片、驱动 IC、信号样品的研发测试工作。单台设备替代多台**测试仪器，节约宝贵厂房空间。主机投入可控，板卡按需选配，可以分步投入资金。本土*提供调试支持，帮助研发工程师完成样品参数摸底、失效复现。对于场地紧张的研发中心，G97?S 用小空间实现多品类芯片测试能力，兼顾性能、预算与场地约束。国磊 ATE 支持 MCU 固件烧录 功能测试，兼容Flash、OTP 存储器编程，适配家电、物联网大批量 MCU 全自动产线流转。杭州PCB测试系统参考价

　　国磊G97-ADC 8 槽研发方案可直接移植到 72 槽量产机，无需重新开发测试程序。杭州国磊CAF测试系统*

　　传感器信号调理芯片属于典型混合信号器件，内部集成信号放大与ADC单元，测试需要采集微弱小信号，很多通用ATE底噪过高，无法分辨芯片真实信号与设备引入噪声，测试结果可信度不足。科普，这类器件测试的关键，是板卡的本底噪声控制与微弱信号采集分辨率，只有压低系统噪声，才可以拿到真实有效的芯片参数。杭州国磊半导体G97?ADC测试机，混合信号专项ATE，搭载低噪声信号链硬件。更换不同测试板卡，既可以完成各类ADC/DAC芯片*动态静态参数测试，也可以适配传感器信号调理芯片的微弱信号采集校验。设备能够复现芯片真实工作状态，完成研发阶段参数标定以及量产阶段良率筛选。本土技术团队针对混合信号测试场景提供方案支持，协助工程师解决小信号测试难题。对于布局传感、工业信号链芯片的企业，G97?ADC可以解决混合信号测试卡点，保障芯片测试结果真实可信。杭州国磊CAF测试系统*

公司名称：杭州国磊半导体设备有限公司

联 系 人：陶先生

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