杭州CAF测试系统* 杭州国磊半导体设备供应

　　工业计量、精密仪器、汽车电子领域对电压基准、电流基准芯片需求持续增长，这类芯片对测试基准源稳定性、温漂、噪声指标要求严苛，普通SMU模块基准漂移大，无法满足ppm级高精度校准测试需求。很多基准芯片企业面临测试设备依赖进口困境：行业研发与量产校准环节普遍依赖进口**参考源设备，采购与维护成本高昂；普通SMU模块温漂大，无法作为基准芯片测试的参考标准；五路以上同步基准输出测试需要多台设备级联，系统复杂度高。科普，电压基准芯片测试主要在于"以基准测基准"，测试设备本身基准源必须比待测芯片高出一个精度等级，全温区温漂通常需要低于5ppm/℃，且需要多路单独隔离输出才能同步测试多颗芯片或多组参数，浮动隔离架构可避免多路基准互相干扰。杭州国磊半导体GI-SMUREF055路精密浮动参考源表，采用低温漂基准电路设计，全温区温漂低于5ppm/℃，五路单独隔离输出，可同步提供多路高精度稳定电压、电流基准，为计量芯片、基准器件提供标准激励信号，精细测试芯片温漂、线性误差、长期稳定性主要参数。搭载于G97-X200中端ATE平台，板卡浮动隔离架构避免多路基准互相干扰，搭配GI-SMUBV04低压精密SMU形成"基准 测量"一体化测试方案。更换不同板卡。国磊G97-ADC是基于G97通用平台的ADC测试系统，以低成本、高精度、高扩展性为特点。杭州CAF测试系统*

　　当下国产替代推进，很多封测厂希望导入国产ATE，但又不敢一次性全部替换进口设备，希望采用分步导入策略，先做新产品，再逐步承接老产品。科普，量产模块化ATE，板卡丰富，可兼容多类芯片，适合分批次导入产线，平滑完成国产化迭代。杭州国磊半导体G97?X600测试机，大规模量产ATE平台，支持多款可替换测试板卡。更换不同板卡，适配功率、电源、驱动类芯片FT、CP量产测试。企业可以先部署G97?X600承接新产品测试，老设备继续承接原有订单，后续再逐步迁移老产品，不用一次性大规模替换全部产线。本土团队协助完成程序迁移、良率对标，缩短验证周期。备件库存充足，*响应及时，保障量产稼动率。帮助封测厂低风险完成产线国产化升级，规避一次性替换带来的生产风险。杭州CAF测试系统*国磊 ATE 可分段采集芯片待机、推理、训练多阶段动态功耗曲线，量化分析多级电源域，优化端侧设备续航性能。

　　高校、科研院所的半导体实验室，经���需要做多类芯片课题实验，电源芯片、驱动器件、信号转换芯片都要做测试，但科研经费有限，很难采购多台ATE设备。科普，科研场景ATE不需要大产能并行，更看重设备灵活度，依靠可替换板卡，单台设备完成多种芯片实验验证，节约经费与场地。杭州国磊半导体G97?S测试机，紧凑型桌面ATE，适配科研实验室场景。机身小巧，部署便捷，通过更换不同测试板卡，就可以完成各类模拟芯片样品实验测试，实现参数采集、失效现象复现、边界条件研究。设备操作门槛低，方便学生、科研人员上手使用，软硬件开放，支持二次开发，便于开展测试相关课题研究。本土*提供技术指导，板卡按需选配，经费可以分步投入。用一台设备覆盖多类芯片科研测试需求，节约实验室经费与宝贵实验场地，是科研机构半导体测试工位的高性价比选择。

　　新能源发电与工业变频领域，IGBT隔离驱动芯片需求持续增长，这类芯片控制侧±100V宽电压域、多路隔离电源、数字PWM逻辑同步测试，常规±60VSMU无法覆盖驱动芯片高压控制轨。很多IGBT驱动企业面临测试方案碎片化问题：多通道数字供电与逻辑验证需要复合型数字板卡协同，企业需采购多套设备分工序检测；高低压混合测试时隔离通道串扰严重，控制侧信号受功率侧干扰导致测试失真；进口隔离驱动测试**设备价格高昂。科普，IGBT隔离驱动芯片测试属于高低压混合信号测试，主要在于控制侧与功率侧的电气隔离与同步测试，浮动隔离架构可彻底消除高低压回路间地环路干扰，而集成型数字板卡则可同时完成PWM逻辑输出与多路供电控制。杭州国磊半导体GI-SMUHP011路精密浮动±100V源测量模块，覆盖IGBT驱动高压控制电压区间，浮动隔离架构规避高低压测试回路串扰，精细测量驱动芯片静态功耗、隔离漏电流、欠压保护阈值。搭载于G97-X300平台，配套GI-DMUMS32集成数字测试板卡，PPMU多路可编程电源、VPP高压激励、32路DIO同步输出PWM控制信号，完整复现变频器实际驱动工况。一套硬件同步完成驱动芯片控制侧逻辑验证与功率侧驱动特性测试。国磊G97-ADC 可自动生成 INL/DNL 曲线、FFT 频谱分析图表。

　　进口ATE每年高昂的软件年费、维保服务费，是很多芯片企业沉重的持续性负担，而且底层软件封闭，二次开发受限，对接MES系统困难。科普，ATE不只是硬件，软件生态决定数字化落地能力，本土自研软件，开放接口，没有强制年费，是国产替代重要优势。杭州国磊半导体G97?X200测试机，中端模块化ATE，整机软硬件全部本土自主研发。通过更换不同测试板卡，适配电源、驱动、混合信号类芯片的研发与小批量测试。软件开放API接口，支持用户二次开发，可以便捷对接MES、数据库，实现测试数据自动归集、良率统计。没有海外设备高额年度软件授权费用，后期维护主要聚焦硬件板卡校准维修。本土技术团队支持定制化功能开发，摆脱海外设备软件锁死的困境，助力中小芯片企业完成测试工位数字化建设，降低长期运维开销。国磊处理器测试平台内置128M 向量存储深度，适配 MPU 逻辑功能测试，定位时序违规、运算异常等隐性缺陷。杭州国磊导电阳极丝测试系统批发

　　国磊G97-ADC 全系统自主设计，针对客户测试过程中的特殊需求快速响应，提供定制化测试方案。杭州CAF测试系统*

　　功率类芯片国产化进程加快，工业电源、新能源相关器件对ATE测试提出高压大电流的严苛要求。普通量产设备板卡耐压、载流能力不足，做功率芯片测试容易出现通道损坏，甚至损伤待测芯片。科普，功率芯片测试不能只依靠软件保护，板卡硬件层面必须具备耐压防护、硬件过压过流切断机制，硬件保护优先级高于软件，保障设备与芯片安全。杭州国磊半导体G97?X600测试机，大产能量产ATE平台，支持选配高压大电流**测试板卡。更换对应板卡，即可适配高压功率IC、大功率电源管理芯片量产FT、CP测试。硬件内置多级防护机制，降低测试过程烧毁风险，同时兼顾普通模拟芯片测试需求。设备并行测试能力强，优化测试节拍，压缩单颗芯片测试时长，降低量产测试成本。支持对接探针台、高低温箱，满足车规、工业芯片全温区测试需求。本土交付与*，助力功率芯片企业搭建稳定可控的国产量产测试产线。杭州CAF测试系统*

公司名称：杭州国磊半导体设备有限公司

联 系 人：陶先生

手 机：13357125978

地 址：浙江杭州市仓前街道向往街1008号14幢6层