杭州国磊GEN测试系统*直发 杭州国磊半导体设备供应

　　很多企业有一部分芯片可靠性验证工作，需要大量做电压拉偏、温度拉偏、边界条件扫描，遍历芯片极限工况，挖掘潜在设计缺陷。科普，边界扫描测试，对设备灵活性要求高，需要板卡支持量程灵活切换，软件支持自动化扫描脚本，高效完成大量工况遍历。杭州国磊半导体G97?S测试机，紧凑型桌面ATE，非常适合实验室可靠性验证场景。通过更换不同测试板卡，灵活切换电压电流量程，完成电源、驱动、信号类芯片的边界条件扫描、极限参数摸底。软件支持自动化测试脚本，自动完成多组激励条件遍历，高效复现边界失效现象，帮助研发团队提前暴露设计隐患。设备体积小巧，放置实验室工作台即可使用，不需要大型机柜。本土工程师提供技术支持，辅助可靠性测试方案落地，以较低投入完成芯片可靠性验证工作，加快芯片迭代优化。针对工业数模混合芯片，国磊 ATE 可模拟多路传感器模拟输入与数字控制输出，验证芯片长时间连续工作稳定性。杭州国磊GEN测试系统*直发

　　CIS图像传感器常见用于手机、车载摄像头、安防设备，芯片测试分为电性直流参数与光学成像同步检测，需要ATE输出稳定供电、读取像素数据，搭配标准光源同步采集噪点、坏点、灵敏度指标，属于模/数/光一体化复合型测试场景。绝大多数ATE只支持单一电性能测试，光学成像检测需要额外采购**光学测试设备，产线两套设备流转，节拍拉长、人力成本翻倍；普通设备像素数据解析能力弱，只能人工筛查坏点、噪点，漏检率高；切换2M~48M不同规格CIS芯片时，需要重新整套搭建硬件、调试程序，新品导入周期长；设备与标准光源、探针台通讯协议不兼容，无法实现全自动联动，需要人工上下料切换测试模式。G97-X200为业内少数实现模/数/光一体化集成的国产ATE平台，预留标准化光源联动接口，可外接行业通用标准光源，同步完成供电、像素信号采集、光学参数检测；内置自研图像数据解析算法，自动标记像素坏点、暗电流噪点、灵敏度偏差，全程无需人工干预；模块化硬件架构，更换适配子板即可快速切换2M至48M全规格CIS测试，NPI调试周期缩短50%；原生兼容主流探针台、分选机通讯协议，实现晶圆CP、成品FT全自动一体化产线；单台设备替代传统电性、光学两套设备。杭州国磊GEN测试系统*直发国磊G97-X200是实验室级超高测量精度，匹配精密芯片严苛指标。

　　物联网终端设备爆发式增长，低功耗MCU、蓝牙SoC、NB-IoT芯片对静态功耗、待机电流、睡眠电流要求达到nA级，设备需要在芯片多种工作模式间快速切换并精细测量微安甚至纳安级电流。很多物联网芯片企业面临功耗测试难题：普通SMU模块小电流测量分辨率不足，nA级睡眠电流测量误差大，无法准确评估芯片低功耗性能；芯片在工作、睡眠、深度睡眠模式间快速切换，电流变化跨度达数个数量级，普通设备量程切换慢，无法捕捉瞬态电流波形；进口低功耗**测试设备价格昂贵。科普，物联网低功耗芯片测试主要在于"宽量程快速切换 nA级电流分辨率"，芯片不同工作模式电流差异可达6个数量级以上，设备必须支持自动量程快速切换，且**小量程分辨率达到nA级，才能准确测量深度睡眠电流，这直接决定物联网终端电池续航能力。杭州国磊半导体GI-SMUBV044路精密浮动±10V源测量模块，毫伏级电压、纳安级电流测量分辨率，极低本底噪声，专为低压低功耗芯片静态功耗、待机电流、睡眠电流测试设计，四路单独通道可同步对比多颗芯片功耗一致性。搭载于G97-S紧凑型桌面ATE，支持自动量程快速切换，可捕捉芯片模式切换瞬间的瞬态电流波形，完整绘制芯片功耗模式曲线。更换不同板卡。

　　工业机器人与新能源汽车产业带动电机驱动IC需求暴涨，多通道电机驱动、栅极驱动芯片***用于伺服电机、步进电机、BLDC无刷电机控制，测试比较大难点在于多通道信号同步性，通道时序偏差过大就无法还原芯片真实工况。很多驱动IC企业面临测试误判问题：普通数字IO板卡多路通道同步输出精度不足，通道间时序偏差达数十纳秒，导致PWM信号失真；驱动IC需要高低压混合测试，控制侧低压与功率侧高压同时测试，通用ATE通道隔离不足容易串扰；多通道驱动输出一致性测试需要大量模拟通道同步采集。科普，驱动IC测试板卡必须保障多路通道同步输出、同步采集，时序误差控制在极小范围，电机驱动对PWM死区时间、通道相位差要求极高，时序偏差过大就会导致上下桥臂直通等严重误判，必须使用硬件级同步触发机制。杭州国磊半导体G97-X300工程中批量ATE，可配置GI-RIOMS3264路高速LVDS数字IO板卡，硬件级星型触发与时钟同步，多通道纳秒级同步输出PWM控制信号；搭配GI-SMUHP01±100V高压SMU完成功率侧驱动输出测试，GI-SMUMV04四路±60VSMU同步采集多通道驱动输出一致性。更换对应板卡，即可完成多通道驱动IC、栅极驱动IC、三相电机驱动等多品类驱动器件测试。国磊全系列 ATE 采用模块化 PXIe 可扩展架构，可按模拟、数字、混合信号测试需求按需增配板卡。

　　很多芯片研发实验室面临一个普遍难题：洁净室空间紧张，要测电源、驱动、信号类多款样品，如果每一类芯片配置一套测试设备，多台仪器堆满工位，大量设备还长期处于闲置，预算和场地双重消耗。科普，桌面紧凑型ATE，主要价值不在于超高并行量产能力，而是以小巧机身，依靠模块化板卡获得多器件适配能力，满足研发阶段参数摸底、失效复现、边界条件扫描。杭州国磊半导体G97?S测试机，是紧凑型桌面式ATE测试设备，专为实验室研发工位打造。体积小巧，部署灵活，不占用大量宝贵洁净厂房面积。通过搭配更换不同规格测试板卡，就可以完成电源管理芯片、驱动IC、混合信号样品的功能与参数测试。企业可以先投入主机，后续根据芯片迭代，按需增配板卡，分步释放资金压力，降低研发项目试错成本。本土技术支持配合样品调试，帮助研发工程师快速定位芯片设计问题，不用完全依赖外部第三方测试机构，掌握样品测试自主。对于芯片设计公司研发中心、高校半导体实验室，G97?S是高灵活度、高性价比的研发测试硬件选择。国磊G97-ADC 可与高低温设备联动，完成温漂可靠性批量测试。杭州CAF测试系统

　　国磊G97-ADC高精度AWG信号源，-122dB的THD确保低失真的正弦波输出，提供ACD高精度激励源。杭州国磊GEN测试系统*直发

　　第三方封测厂承接模拟、功率、MCU、存储、显示驱动多品类芯片代工测试，主要诉求是设备通用性强、一机多用，减少多台**ATE采购，统一数据管理，快速切换不同客户芯片测试流程，提升厂房与设备资产利用率。行业主流方案为单品类**ATE，一条产线搭配多台不同机型设备，厂房占用面积大，设备采购固定资产投入极高；各品牌测试软件**封闭，测试数据格式不互通，无法汇总全厂良率、失效数据统一分析；切换不同品类芯片需要更换整套主机、板卡，新品导入调试周期长达数周；进口设备软件授权收费高昂，多产线部署成本翻倍；设备运维需要掌握多套设备操作技能，人力培训成本高。杭州国磊采用G97模拟平台 GT600SoC平台双产品线灵活组合，单台主机只更换功能板卡即可快速切换模拟、功率、MCU、DDI、存储多品类芯片测试；全系设备搭载统一自研测试软件，数据格式标准化，一键汇总全客户、全品类测试数据，自动生成综合品质分析报表；模块化板卡插拔式设计，品类切换调试时间压缩至1天内；国产软件长久**开放使用授权，无额外年费、点位费；统一操作界面与运维标准，工程师只需掌握一套操作流程即可操作全部机型；相比分品类采购**设备，整体固定资产投入降低55%，厂房占用缩减40%。杭州国磊GEN测试系统*直发

公司名称：杭州国磊半导体设备有限公司

联 系 人：陶先生

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