孔型分辨率测试卡定做

　　孔型分辨率测试卡

　　产品编号：20260901-5

　　以下信息仅供参考，详细技术参数请直接咨询。

　　产品定位：一种用于X射线成像系统空间分辨率测试的标准化工具，通过一系列不同直径与间距的圆孔阵列，在X射线图像中形成可分辨的图案，用于评估系统的极限分辨率。

　　核心技术特点：

　　● 精密圆孔阵列：在铅箔或钨箔上采用激光或光刻工艺加工出一系列圆孔，孔径从0.05毫米至2毫米不等，呈矩阵或同心圆排列。孔间距与孔径相等，形成标准的线对结构。

　　● 高对比度：铅或钨材料对X射线的高吸收特性，使圆孔在图像中呈现为清晰的亮斑，与周围不透光区域形成极高对比度，便于判读。

　　● 多方向分辨率测试：部分设计采用扇形或星形排列，圆孔的方向逐渐旋转，可同时评估系统在不同方向上的分辨率表现，检测是否存在方向性偏差。

　　● 编码标识：每档孔径旁标注有对应的数值与线对密度，便于判读与记录。卡体边缘带有定位标记，便于在图像中确定测试区域。

　　关键规格：

　　● 孔径范围：0.05至2毫米

　　● 孔材质：铅或钨

　　● 基板材质：亚克力或有机玻璃

　　核心价值与应用场景：

　　● X射线成像系统的“分辨率尺”：孔型测试卡与传统的线对卡互为补充，特别适用于评估系统的低对比度分辨率。通过观察可分辨的最小孔径，量化系统的细节显示能力。

　　● 数字探测器性能评估：在数字X射线系统中，孔型测试卡可用于评估像素尺寸与系统MTF之间的关系，为探测器选型提供依据。

　　● 典型用途：DR系统空间分辨率的日常质控、微焦点X射线系统的微米级分辨率测试、数字探测器像素尺寸与分辨率关系的实验研究、不同放大倍数对分辨率影响的对比、X射线成像原理与图像质量评价教学。

　　质保期限：12个月

　　定制服务：可按客户要求定制孔径范围、孔材质及排列方式。

　　特别提示：以上信息仅供参考，详细技术参数请直接咨询。

公司名称：廊坊玉双仪器设备有限公司

联 系 人：毕晓杰

手 机：13722651652

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