杭州高精度板卡*直发 杭州国磊半导体设备供应

　　功率管理IC、多通道BMS、多路输出电源SoC内部存在多条单独电源轨，不同电压域需要同步施加激励、同步采集参数，先后测试会无法复现芯片真实工作状态，造成参数测试偏差。这类芯片测试要求测试硬件具备多梯度**电压通道，通道之间隔离互不干扰。杭州国磊GI系列SMU天然形成完整电压梯度矩阵：GI-SMUBV04±10V低压通道、GI-SMUMV04±60V中压通道、GI-SMUHP01±100V高压通道、GI-SMUHV011000V超高压通道，不同规格SMU可在同一机箱协同工作，多电压域同步输出激励。多条电源轨**浮动隔离，杜绝相互串扰，同步采集各路电压、电流数据，精细复现芯片多轨同时上电的实际工况。搭配GI-DMUMS32数字板卡输出控制信号，实现模拟电源与数字控制同步联动，完整覆盖多路电源管理芯片*测试项目。整套方案大量应用于储能BMS、多路快充SOC、多通道工业电源芯片研发与量产。相比采购多台**台式源表，PXI模块化架构时序同步性更强，系统集成度更高，方便对接自动化分选设备，搭建多路电源芯片标准化量产测试工位。PXIe架构国磊多功能PXIe测试板卡，轻松集成，为您的ATE平台注入旗舰级模拟测试能力。杭州高精度板卡*直发

　　穿戴、无线传感低功耗蓝牙MCU**测试指标为nA级休眠功耗、多路低压电源轨、蓝牙射频数字逻辑、存储擦写，高压SMU噪声大不适合低功耗测量，进口低压多通道源表单通道成本高，制约低功耗芯片量产测试效率。杭州国磊GI-SMUBV044路精密浮动±10V低压SMU，极低本底噪声，纳安级休眠电流精细采集，四路**低压通道同步模拟MCU内核、射频、外设多路低压电源轨，完整复现IoT芯片休眠、唤醒、发射全工况功耗曲线；配套GI-DMUMS32数字板卡完成蓝牙IO、存储VPP、通讯逻辑功能测试，一套硬件覆盖低功耗MCU模拟功耗与数字功能全参数测试。2026年*低功耗IoT芯片出货量持续爆发，本土蓝牙芯片设计公司快速扩产，量产测试工位需求激增，进口低噪声低压SMU供货周期长，国磊四路低压精密SMU批量*，多板卡级联扩展数十路并行测试通道，单批次测试芯片数量提升四倍。搭配GI-CBIT120继电器自动切换多路夹具，对接常温分选机实现全自动量产，硬件长期连续运行噪声稳定，可精细区分nA级功耗差异，快速筛除功耗超标芯片，大幅降低IoT低功耗芯片测试设备投入，助力国产蓝牙MCU抢占穿戴、无线传感市场。杭州高精度板卡*直发国磊PXIe测试板卡，高精度AWG （DGT）一体���减少系统误差，提升测试可重复性，为校准认证提供坚实依据。

　　新能源车800V高压平台普及，SiC功率模块、车载OBC、DC-DC高压功率器件量产规模持续扩大，1000V击穿电压、高温漏电流、多支路并联特性测试，需要高压SMU搭配大规模自动切换继电器，进口高压测试系统通道少、切换工位有限，产线吞吐能力不足。杭州国磊GI-SMUHV011000V高压浮动SMU，具备高绝缘耐压、pA级微电流测量能力，完美适配车载高压功率模块静态击穿、关态漏电流、高温反偏老化测试，浮动隔离设计消除模块多支路测试串扰，测量精度不受高压地环路影响。搭配GI-CBIT120120路继电器驱动板卡，单套系统可自动切换数十个功率模块支路，无需人工插拔夹具，实现全自动并行量产筛选，大幅减少产线人工操作。2026年国内头部车企、功率器件IDM加速自建高压测试产线，进口高压ATE交付周期普遍超半年，延误产线投产进度，国磊高压SMU与继电器板卡*交付，2周内完成产线系统联调。针对车载AEC-Q101可靠性强制测试项目，整套硬件支持-55℃至175℃三温循环连续测试，硬件内置多重高压安全保护，杜绝产线短路、击穿安全隐患，多套系统并行部署可支撑万级功率模块日产能测试，明显降低车载高压器件测试设备投入，加速新能源车功率半导体国产化量产。

　　为解决微型化硬件功能固化、升级维护难的行业痛点，微型化PXIe板卡普遍采用标准化、模块化设计思路。GI?SMUBV04是杭州国磊半导体推出的3UPXIe四通道精密浮动低压源测量单元（SMU）板卡，属于其N系列高性能测试板卡，主打高精度、全浮动、四象限驱动/测量，面向半导体与新能源测试场景。依托通用PXIe总线标准与标准化对外接口，板卡支持功能模块自由增减、多卡灵活级联拓展，可根据不同测试场景、不同产品的测试需求，快速组合适配测试方案。同时，模块化的拆分设计大幅降低了设备故障排查、零部件更换、功能升级的难度，有效缩短设备维护时长，降低企业后期运维成本，完美适配多场景、迭代化的测试需求。复杂协议难仿真？杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32，支持标准STIL/ATPG向量导入，自动化测试更轻松。

　　很多实验室与产线长期存在一个共性问题：不同日期、不同温区下芯片测试数据重复性差，排除DUT本身因素后，根源在于测试系统缺乏稳定基准，普通SMU内置基准温漂较大，长时间测试出现参数偏移。在计量类芯片、高精度模拟芯片测试场景，基准漂移直接导致校准失效。杭州国磊GI-SMUREF05五路精密浮动参考源表，专为系统基准校准设计，低温漂电路设计，提供多路稳定标准电压、电流输出。测试前可以利用参考源定期校准整套SMU采集通道，消除系统零点漂移；测试过程中，为待测高精度芯片提供标准激励信号。常与GI-SMUBV04低压精密SMU配套使用，形成“基准校准 参数测量”一体化平台，有效提升长期测试数据一致性。适用于电压基准芯片、工业ADC、传感器信号调理芯片研发与出厂校准。第三方计量实验室、高精度模拟芯片企业导入参考源板卡之后，不同批次样品测试数据偏差明显收窄，减少因系统漂移造成的重复复测，提升测试效率与数据可信度。科研级任意波形收发器！国磊多功能PXIe测试板卡20bit AWG 24bit DGT，支持μV级测量，高校/研究所使用。杭州高精度板卡*直发

　　从6G通信到智能医疗，从AI芯片到新能源汽车,国磊多功能PXIe测试板卡，正成为驱动前沿科技突破的创新基石。杭州高精度板卡*直发

　　当下芯片企业品质管控要求持续升级，车规、工业芯片需要完整测试数据留存、参数可追溯，方便后期失效分析。很多简易测试设备数据格式杂乱，难以对接工厂MES系统，无法满足长期品质追溯需求。杭州国磊GI系列测试板卡开放标准化数据流接口，采集的电压、电流、时序、波形原始数据完整输出，支持存储至本地服务器或云端数据库，搭建全链路数据溯源体系。硬件端GI-SMU系列源表实时同步采样时间戳，GI-TMUHA04时序模块、GI-WRTLF系列波形板卡同步保存原始波形文件，每一颗芯片所有测试参数长久留存。客户自主开发上位机程序后，可实现测试数据自动上传MES，绑定芯片条码、批次、测试工位、温区信息，一旦出现终端失效，能够快速回溯量产测试原始数据，开展失效分析。整套硬件不绑定私有数据格式，不存在数据封闭问题。功率IDM、第三方封测厂、车规芯片企业十分适合搭建这套溯源测试体系。同时搭配GI-CBIT120自动切换模块实现无人自动化测试，批量数据自动归档，减少人工记录产生的误差，完善企业芯片品质管控体系，助力顺利通过各类工业、车规品质审核。杭州高精度板卡*直发

公司名称：杭州国磊半导体设备有限公司

联 系 人：陶先生

手 机：13357125978

地 址：浙江杭州市仓前街道向往街1008号14幢6层